در این مقاله، ابتدا گزارشی از مشخصات یک سیستم اندازهگیری طول عمر نابودی پوزیترون در مواد، که برای اولین بار در ایران با همکاری گروه فیزیک دانشگاه سیستان و بلوچستان و شرکت نوین طیف ساخته شده، ارائه میشود. در حال حاضر این سیستم قادر است با قدرت تفکیک زمانی بهتر از 350 پیکوثانیه طول عمر نابودی پوزیترون در موادی همچون سرامیک، شیشه و سایر مواد عایق با ضریب دی الکتریک متفاوت را اندازهگیری کند. در ادامه گزارشی از طراحی و راهاندازی اولین و تنها سیستم بومی تولید باریکههای پوزیترون حرارتی و بهکارگیری آن در مطالعة عیوب ناشی از تابشهای پرانرژی در ساختار مواد، ارائه میشود. این دستگاه توسط دانشگاه سیستان و بلوچستان و با حمایت مالی طرحهای نوین وزارت صنعت، معدن و تجارت طراحی و ساخته شدهاست.
[1] Paul, D. L. and Saint-Pierre, L., “Rapid Annihilations of Positrons in Polyatomic Gases,” Physical Review Letters,Vol.11, No. 11, 1963, pp.493-496.
[2] Singh J. J., “Microstructural Characterization of Polymers with Positrons”, NASA Langley Research Center, TM-110469, 1996.
[3] Singh, J. J., Pater, R. H. and Eftekhari, A., “Microstructural Characterization of Semi-Interpenetrating Polymer Networks by Positron Life-time Spectroscopy,” NASA Langley Research Center, TP-3617, 1996.
[4] Singh, J. J., Sprinkle, D. R. and Eftekhari, A., “Positron Lifetime Spectroscopy for Investigation of thin Polymer Coatings”, NASA Langley Research Center, TM-4421, 1993.
[5] Semiconductor Device Laboratory Annual Report, “Theoretical and Experimental Studies of Radiation-Induced Damage to Semiconductor Surfaces and the Effects of this Damage on Semiconductor Device Performance”, NASA Grant NsG-588, 1965.
[7] Weiss, A., Koymen, A. R., Mehl, D., Jensen, K. O., Lei, C. and Lee, K. H., “Positron Annihilation Induced Auger Electron Spectroscopy,” NASA Goddard Space Flight Center, CP-3058, 1990, pp. 289-291.
[8] Singh, J. J. and Eftekhari, A., “Investigation of Oxygen-Induced Quenching of Phosphorescence in Photoexcited Aromatxc Molecules by Positron Annihilation Spectroscopy,” NASA Langley Research Center, TP-3619, 1996.
[9] Singh, J. J., Holt, W. H. and Mock, W., “Positron Annihilation Spectroscopy with Magnetically Analyzed Beams,” NASA Langley Research Center, TM-84535, 1982.
[10] Esmizade, E., RazaviNoori, M. and Kalati, V. A., “Positron Annihilation Life-time Spectroscopy (PALS), Introduction and Applications in Polymer Science,” Journal of Educationalpolymerization, Research of the Second Year, No.1, pp. 22-29, 1391.
[11] Abedy, S. and Shirani, A., “Positron Life Time Measurement in Al Using a Coincidence System,” Iranian Physics Conference Proceedings, No. 981,
[12] Nezhad Basaidu, A., GEANT4 Simulation of a Coincidence System for Positron Annihilation Gamma Spectroscopy in Material, (M. Sc. Thesis), University of Sistan & Baluchestan, Jan. 2010.
[13] Khaghani, M., Study of Positron Spectroscopy Methods and Development of Instrumentation for Doppler Broadening Technique, ( Sc. Thesis), University of Sistan & Baluchestan, Jan.2010.
[14] Nikoo, H., Simulation of 22Na Positron Source Producing with Proton Beam below 30 MeV Energies in MCNPX, (M. Sc. Thesis), University of Sistan & Baluchestan, Feb. 2012.
[15] Shamsaddiny-Lory, S., “Positron Annihilation Life-time Spectroscopy of Bulk Samples and Operating the Set-up,” (M. Sc. Thesis), University of Sistan & Baluchestan, Feb. 2012.
[16] Fattah-Moghadam-Talemi, L., Experimental Study of Wolfarm as a Positron Moderator, (M. Sc. Thesis), University of Sistan & Baluchestan, Feb. 2012.
[17] Mohammadi-Dadkan, M., Calculation the Technical Details and Design a Bending Magnetic Transmission System for Transfer Slow Positron, (M. Sc. Thesis), University of Sistan & Baluchestan, Jan. 2013.
[18] Puska, M. J. and Nieminen, R. M., “Theory of Positrons in Solids and on Solid Surfaces,” Reviews of Modern Physics, Vol. 66, No. 3, 1994, p. 841.
[19] Krause-Rehberg, R. and Leipner, H. S., Positron Annihilation in Semiconductors, Springer-Verlag Berlin Heidelberg New Yourk, 1999.
[20] Mehmandoost-Khajeh-Dad A. A., Mahjour-Shafiei, M. and Khaghani, M., “Development of a Doppler Broadening Positron Spectroscopy Setup and Relative Positron-Electron Momentum Distribution Measurement for Commercial Al,” Journal of Theorical and Applied Physics, Vol. 4, No. 4, 2011, pp. 9-12.
[21] West, R. N., et.al, Positron in Solids, Edition P. Hautojarvi, Springer, Heidelberg, 1979.
[22] Vehanen, A., Lynn, K. G., Schutz, P. J. and Eldrup, M., “Improved Slow-Positron Yield Using a Single Crystal Tungsten Moderator,” Applied Physics A., Vol. 32, No. 3, 1983, p. 163
[23] Stavola, M., Identification of Defects in Semi-Conductors, Academic Press, 1998.
[24] Rohatgi, A., et. al, “A Review of Selected Techniques for Characterizing Radiation-Induced Defects in Solar Cells,” Solar Cells, Vol. 31, No. 4, 1991, pp. 379-394.
مهماندوست خواجهداد,علیاکبر , خاقانی,مرتضی و جعفرزاده خطیبانی,مرتضی . (1392). روشهای طیفسنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستمهای اندازه گیری. علوم و فناوری فضایی, 6(2), 1-10.
MLA
مهماندوست خواجهداد,علیاکبر , , خاقانی,مرتضی , و جعفرزاده خطیبانی,مرتضی . "روشهای طیفسنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستمهای اندازه گیری", علوم و فناوری فضایی, 6, 2, 1392, 1-10.
HARVARD
مهماندوست خواجهداد علیاکبر, خاقانی مرتضی, جعفرزاده خطیبانی مرتضی. (1392). 'روشهای طیفسنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستمهای اندازه گیری', علوم و فناوری فضایی, 6(2), pp. 1-10.
CHICAGO
علیاکبر مهماندوست خواجهداد, مرتضی خاقانی و مرتضی جعفرزاده خطیبانی, "روشهای طیفسنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستمهای اندازه گیری," علوم و فناوری فضایی, 6 2 (1392): 1-10,
VANCOUVER
مهماندوست خواجهداد علیاکبر, خاقانی مرتضی, جعفرزاده خطیبانی مرتضی. روشهای طیفسنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستمهای اندازه گیری. علوم و فناوری فضایی, 1392; 6(2): 1-10.
